泰克提供最精確的超高速USB測試解決方案

　　受來自更快數(shù)據(jù)傳輸速度的驅(qū)使，USB 3.0的性能較當(dāng)前USB解決方案提高了10倍，但同時也給系統(tǒng)和電路設(shè)計人員帶來了多重挑戰(zhàn)。增加的帶寬對關(guān)鍵信號傳輸和信號保真度提出了更高的要求，因而需要異常準(zhǔn)確、功能多樣的測試解決方案。當(dāng)業(yè)內(nèi)其它解決方案只是根據(jù)USB-IF測試規(guī)范提供標(biāo)準(zhǔn)化測量時，泰克的USB-TX選項則支持所有測量，包括標(biāo)準(zhǔn)化測試和參考性測試，如擴(kuò)頻時鐘(SSC)、轉(zhuǎn)換、電壓電平等等?？蛻敉耆梢孕刨嚻湓O(shè)計驗證過程。

　　其它解決方案只限于特定標(biāo)準(zhǔn)化一致性測試，而泰克USB-TX則提供了全面而完善的一系列檢定、調(diào)試和一致性測試工具。加上唯一能夠以最近距離探測芯片的插頭式測試夾具，泰克USB3.0測試解決方案可以最真實地反映信號。

　　“我們得以提前試用泰克為超高速 USB最新推出的測試解決方案，它為Fresco Logic的USB 3.0芯片設(shè)計工藝帶來的生產(chǎn)效率上的提高令人激動。”Fresco Logic公司首席技術(shù)官Bob McVay說，“AWG7000可以執(zhí)行接收機(jī)容限測試，并能夠迅速從發(fā)射機(jī)一致性測試環(huán)境轉(zhuǎn)到調(diào)試。事實證明，AWG7000可以節(jié)約大量時間。”

高速串行標(biāo)準(zhǔn)自動化框架

　　選項USB-TX基于TekExpress框架，該框架是專為自動一鍵式測試高速串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)而開發(fā)的。TekExpress模塊基于標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)指定和發(fā)布的測試要求和實現(xiàn)方法(MOI)，所有測試流程均自動完成，客戶只需選擇所需的測試，就可以獲得包括通過/失敗和余量結(jié)果的完整報告。除新推出的USB 3.0解決方案外，泰克目前還為SATA和DisplayPort提供了自動測試模塊。

　　“TekExpress幫助工程師們消除了高速串行數(shù)據(jù)測試工作中的臆測。在當(dāng)前環(huán)境中，客戶要處理多種標(biāo)準(zhǔn)，成為所有領(lǐng)域的專家，這一點極具挑戰(zhàn)性。”泰克公司技術(shù)解決方案部總經(jīng)理Ian Valentine說，“TekExpress提供了客戶所需的專業(yè)技術(shù)，并使得他們能夠?qū)Ｗ⒂谠缛諏⒃O(shè)計投向市場上。”

完整的發(fā)射機(jī)、接收機(jī)和電纜測試解決方案

　　USB將加入其它高速串行標(biāo)準(zhǔn)，如速率達(dá)8 Gb/s 的PCI Express和6 Gb/s的SATA ，成為要求更高的技術(shù)之一，從而需要先進(jìn)的測量儀器，如泰克最新推出的業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的DPO/DSA70000B示波器。泰克實時示波器擁有高達(dá)20GHz的帶寬，提供了業(yè)內(nèi)最優(yōu)秀的信號保真度、最低的噪底和最高的有效比特數(shù)(ENOB)，為高要求的一致性測試和調(diào)試測試提供了更大的余量和保真度。對于接收機(jī)測試來說，泰克AWG7000B任意波形發(fā)生器是唯一可以在一臺儀器中生成所有要求信號的解決方案。同時，泰克還通過其DSA8200采樣示波器提供了電纜和信道測量解決方案。

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